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FORNARI, C. I.; ABRAMOF, E.; RAPPL, P. H. O.; KYCIA, S. W.; MORELHÃO, S. L. Morphology control in van der Waals epitaxy of bismuth telluride topological insulators. MRS Advances, v. 5, n. 35/36, p. 1891-1897, 2020. DOI: <10.1557/adv.2020.202>. Disponível em: <http://doi.org/10.1557/adv.2020.202>.
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... como proposto por Fornari et al. (2020).
... pode ser encontrada na literatura (FORNARI et al., 2020).