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PAES, T. F.; BELOTO, A. F.; BERNI, L. Â.; SILVA, L. M. Spectrum photoluminescence measuring system of porous silicon samples. Proceedings of SPIE, v. 8785, n. 8785A9, (campo ausente ou vazio: 'pages') 2013. DOI: <10.1117/12.2021695>. Ibero American Optics Meeting, 8.; Latin American Meeting on Optics, Lasers, and Applications, 11. Disponível em: <http://doi.org/10.1117/12.2021695>.
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... como proposto por Paes et al. (2013).
... pode ser encontrada na literatura (PAES et al., 2013).